|
|
首頁 > 新聞中心 > GB T12085光學和光學儀器環(huán)境試驗方法標準簡介
| GB T12085光學和光學儀器環(huán)境試驗方法標準簡介 |
|
| 時間：2013/11/30 8:20:04 |
| |
GB/T12085光學和光學儀器環(huán)境試驗方法標準共分為以下16個部分：
1、術語、試驗范圍；
2、低溫、高溫、濕熱；
3、機械作用力；
4、鹽霧；
5、低溫、低氣壓綜合試驗；
6、砂塵；
7、滴水、淋雨；
8、高壓、低壓、浸沒；
9、太陽輻射；
10、振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗；
11、長霉；
12、污染；
13、沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗；
14、露、霜、冰；
15、寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗；
16、彈跳或恒加速與高溫、低溫綜合試驗。
標準規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記，適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件，標準是研究試驗的光學、熱學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程序。
試驗暴露在內(nèi)部有調(diào)節(jié)氣壓或裝備有空氣循環(huán)的試驗箱，試驗箱有效工作空間中各處溫度應均勻，并應和控制點的數(shù)值一致，試驗箱壁上和頂上的凝結(jié)水不得滴落在試樣上，散熱試樣試驗時，應在相應的標準中規(guī)定溫度傳感器和定位安裝位置和數(shù)量。 |
|
| |
 |
相關新聞 |
|
|
|
|
