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| 恒溫恒濕試驗箱貯存應(yīng)選擇合適的試驗（上） |
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| 時間：2013/11/15 8:09:21 |
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由于不同參數(shù)產(chǎn)生不同的應(yīng)力，從而引起不同的破壞類型或失效模式，很顯示不可能給恒溫恒濕試驗箱明確規(guī)定一種單一的貯存試驗，GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》所述的標準試驗，可以方便地用來模擬特定的貯存條件，通常，貯存試驗是以下列試驗為基礎(chǔ)：試驗A：低溫、試驗B：干熱以及試驗Ca：恒定濕熱，試驗持續(xù)時間一般較長，可能長達幾個月（試驗Ca的長時間為2個月），對于某些情況（例如鹽霧、工業(yè)大氣）或其他試驗可能更加重要，在制定詳細貯存規(guī)范時宜考慮這些試驗。
眾所周知，恒溫恒濕試驗箱標準試驗并非用來模擬實際條件，在某些情況下有必要做一些特殊試驗，盡管如此，從技術(shù)及經(jīng)濟上考慮，建議只要有可能，就宜采用標準試驗，在選擇合適的試驗時，應(yīng)考慮：預(yù)期的劣化機理和失效模式，這些可以從經(jīng)驗或?qū)Ξa(chǎn)品特性和貯存條件的分析中得知，并且和環(huán)境與材料之間的相互作用有關(guān)，涉及的主要環(huán)境應(yīng)力以及它們能否看作是單獨使用、綜合作用或依次作用，在失效模式無本質(zhì)性改變以及不引起新的失效模式的情況下，加速劣化進程的可能性。 |
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